Geräte zur taktilen und optischen Oberflächenmessung

Darstellung der Oberfläche

Um die Untersuchungen zur Schichtcharakterisierung zu ergänzen, nutzen wir am Lehrstuhl für Konstruktionstechnik optische und berührungssensitive Methoden, die unsere Versuchsergebnisse anschaulich werden lassen. Somit können Tendenzen in der Entwicklung von Schichten auch populärwissenschaftlich schnell deutlich kommuniziert werden.

Digital-Lichtmikroskop

Das bewährte Materialmikroskop LEICA DM4000 M wird zusammen mit einer modernen Messsoftware der Firma LEICA für vielfältige Aufgaben am Lehrstuhl eingesetzt. Es stehen sechs Objektive von 2,5fach bis 100fach für die Dokumentation von Ausprägungen der Oberflächen vor und nach den verschiedenen Prozessen der Probenvorbereitung und der Ergebnisse der durchgeführten Methoden der Oberflächencharakterisierung zur Verfügung.

Laserscanning-Mikroskop

Gemeinsam mit dem Lehrstuhl für Fertigungstechnik betreibt der KTmfk das konfokale Laserrastermikroskop VK-X200 der Firma Keyence mit einem motorisierten X-Y-Objekttisch. Durch den Einsatz von Laserlichtquelle und Weißlichtquelle ist es möglich, bei der Untersuchung drei Bilder zu gewinnen: Ein Farbbild mit exzellenter Tiefenschärfe, ein Laserintensitätsbild und ein Bild mit Höheninformationen, welche mittels Analysesoftware zu einem omnifokalen Bild zusammengefügt werden können. Damit steht ein leistungsstarkes, berührungsloses 3D-Messsystem für präzise Profil- und Rauheitsmessungen auch an gekrümmten Oberflächen zur Verfügung, das eine Auswertung der Laufbahn-Topologie besonders nach tribologischen Untersuchungen an Hochleistungswerkstoffen ermöglicht.

Form Talysurf PGI NOVUS, Firma Taylor Hobson

Mit dem Form Talysurf PGI NOVUS von der Firma Taylor Hobson kann der KTmfk ein hochgenaues taktiles Tastschnittsystem sein Eigen nennen. Oberflächenbeschaffenheit, Kontur, und 3D Topographien können ermittelt, mit einer Genauigkeit bis zu 0,2 nm aufgelöst und optional auch automatisiert ausgewertet werden. Durch die Kombination eines beidseitig messenden Tastsystems (Dual Bias) und der fortschrittlichen Analyse-Software Metrology 4.0 sind intuitive, wiederholgenaue und präzise Messungen und Analysen von Oberflächenbeschaffenheiten und Profilmessungen in normaler und umgekehrter Richtung möglich. Neben der exzellenten Genauigkeit stehen softwareseitig verschiedene Messtechnikkonzepte und Publishing Funktionen zur Auswahl, um die topologischen Ergebnisse nutzerfreundlich aufbereiten und darstellen zu können.